NTEGRA SPECTRA

Ricerca interdisciplinare nel campo della nanotecnologia: AFM+spettroscopia confocale Raman+SNOM+TERS

Integrazione di SPM e spettrometro di dispersione confocale/Raman. Grazie alla diffusione migliorata del Raman sulla punta, la spettroscopia/microscopia può essere eseguita con una risoluzione fino a 10 nm

INDICE TECNICO

NTEGRA Spectra AFM/Confocal Raman e Fluorescenza/SNOM/TERS Integrazione: chiave per una nuova scienza

L'interfaccia è cambiata e il cambiamento più emozionante nel campo della microscopia oggi è dove le tecnologie multiple sono collegate insieme. NTEGRA Spectra è un grande esempio di combinazione della piena funzionalità della microscopia atomica della forza (AFM), della spettroscopia confocale Raman e della microscopia a fluorescenza e dell'integrazione della microscopia ottica vicino-campo di scansione (SNOM) su una piattaforma Configurazioni differenti di AFM e microscopia confocale Raman/fluorescenza

Configurazione unica per immagini simultanee verticali AFM Raman TERS * e SNOM di campioni opachi * TERS: dispersione Raman migliorata della punta, fluorescenza migliorata della punta, ecc

Campioni ottimizzati invertiti per immagini simultanee di AFM Raman ERS * e SNOM su substrati trasparenti (cellule vive, nanoparticelle, ecc.)

L'opzione di illuminazione laterale è utilizzata per facilitare la misurazione TERS * di campioni opachi

Il microscopio ottico vicino-campo di scansione della fibra (SNOM) si basa sulla tecnologia SNOM in fibra di quarzo.

Il microscopio ottico a sbalzo (SNOM) è basato sulla tecnologia SNOM con sbalzo perforato.

• Microscopio a forza atomica (30 modalità)
• Raman confocale/fluorescenza/microscopia Rayleigh
• Microscopia ottica di scansione in campo vicino (SNOM/NSOM)
• Ottimizzato per spettroscopia Raman avanzata e fluorescenza (TERS, TEFS, TERFS) e SNOM di dispersione (s-SNOM)

Tutte le soluzioni possibili per eccitazione/rilevamento e geometria TERS

Modalità principio di funzionamento:

SPECIFICHE

• Microscopia confocale Raman/fluorescenza
• AFM / STM： Integrazione con spettroscopia
• software
• spettroscopia
• Microscopio ottico di scansione in campo vicino (SNOM)
• Ottimizzato per lo scattering Raman potenziato (TERS) della punta dell'ago e altre tecniche ottiche relative alle punte dell'ago
• (S-SNOM, SNIM, TEFS, STM-LE, ecc.)

Microscopia confocale Raman/fluorescenza

• Funzionamento simultaneo di imaging confocale Raman/fluorescenza/Rayleigh e microscopia atomica della forza (scansione di un campione)
• Risoluzione spaziale limite di diffrazione: XY 200 nm, Z 500 nm (con obiettivo di immersione)
• I pulsanti sul software True Faith possono controllare il foro elettrico confocale per un segnale ottimale e una messa a fuoco confocale
• Espansore/collimatore elettrico a fascio variabile: regolare il diametro e la collimazione del raggio laser separatamente per ogni laser e ogni lente obiettivo utilizzata
• Imaging confocale Full 3D (XYZ) con potenti capacità di analisi delle immagini
• Imaging iperspettrale (registrazione di spettri Raman completi in ogni punto della scansione confocale 1D, 2D o 3D) e ulteriore analisi software
• Litografia ottica (vettore, griglia)

AFM / STM： Integrazione con spettroscopia

• Configurazioni AFM ottiche verticali e invertite (ottimizzate rispettivamente per campioni opachi e trasparenti);
• Opzioni di illuminazione laterale
• L'elemento ottico a più alta risoluzione (apertura numerica) viene utilizzato contemporaneamente con AFM: verticale 0,7 NA, invertito 1,3-1,4 NA
• Ottenimento simultaneo di immagini AFM/STM e Raman/fluorescenza confocali (una scansione)
• Supporta tutte le modalità standard di imaging SPM (30 modalità) - in combinazione con Raman/fluorescenza confocale
• AFM/STM a basso rumore (risoluzione atomica)
• Grazie allo speciale design della testa ottica AFM, le vibrazioni e la deriva termica provenienti dal corpo del microscopio ottico possono essere minimizzate
• Funzione di inseguimento della messa a fuoco: a causa del feedback Z di AFM, il campione rimane concentrato in ogni momento; Si possono ottenere immagini confocali di alta qualità di campioni molto ruvidi o inclinati

software

• Integrazione senza soluzione di continuità di AFM e Raman; Tutti gli esperimenti AFM/Raman/SNOM e ulteriori analisi dei dati sono stati condotti nello stesso software
• Potente analisi di immagini iperspettrali 1D, 2D e 3D
• Potente esportazione verso altri software (Excel, MatLab, Cytospec, ecc.)

Analisi spettrale

• Spettrometro ad alta efficienza lungo 520 mm con 4 griglie elettriche
• Gamma spettrale visibile, UV e IR
• La griglia Escher ha una dispersione ultra elevata; Risoluzione spettrale: 0,007 nm (<0,1 1=''>0,1>)
• Possono essere installati fino a 3 diversi rivelatori
• Telecamera CCD raffreddata TE (fino a -100 ° C). La fotocamera EMCCD è opzionale - per immagini ultra veloci
• Moltiplicatore di fotoni (PMT) o fotodiodo avalanche in modalità di conteggio dei fotoni
• Moltiplicatore fotonico per l'imaging laser confocale rapido (Rayleigh)
• Optica flessibile a polarizzazione elettrica nel canale di eccitazione e rilevamento, misurazione Raman a polarizzazione incrociata
• Commutazione completamente automatica tra diversi laser in pochi clic

Microscopio ottico a scansione a campo vicino (SNOM)*

• Supporta due tecnologie SNOM principali: (i) sonde a fibra di quarzo e (ii) sonde a braccio in silicio
• Tutte le modalità supportate: trasmissione, raccolta, riflessione
• Rilevamento di tutti i segnali SNOM: intensità laser, intensità fluorescente, spettroscopia
• Gravura SNOM (vettoriale, raster)

Ottimizzato per la diffusione di Raman potenziata all'avanguardia (TERS) e altre tecnologie ottiche legate all'avanguardia (S-SNOM, SNIM, TEFS, STM-LE, ecc.)

• Tutte le geometrie TERS esistenti sono disponibili: illuminazione / raccolta da parte inferiore, superiore o laterale
• Possibilità di utilizzare diverse tecnologie SPM e sonde TERS: STM in modalità di attacco e taglio, braccio AFM, forchetta al quarzo
• Scansione doppia (per la mappatura di hotspot in TERS): scansione per campione, punta penna / punta laser
• Componenti ottici di polarizzazione elettrica per una polarizzazione ottimale per TERS

Le misurazioni AFM-Raman possono essere effettuate in aria, in atmosfera controllata o in liquido - tutte le temperature variabili (per configurazioni invertite)

• Alcune delle funzionalità elencate sono facoltative - non incluse nella configurazione di base del sistema